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20L高低温试验箱,芯片高 低温老化箱

20L高低温试验箱,芯片高 低温老化箱

简要描述:

20L高低温试验箱,芯片高 低温老化箱外形小巧,节约空间,操作简单,经济实惠;小型高低温试验箱适用于IC,PCB板•●、晶圆,可控硅,半导体,电阻•●、电容•●、电工•●、电子产品•●、其他零部件在高温•●、低温环境下贮存•●、运输•●、使用时的适应性试验,考核其各项性能指标。

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20L高低温试验箱,芯片高 低温老化箱技术参数:

1•●、范围: -75•●、-40℃--150℃;

2•●、波动度:≤±0.5℃;

3•●、均匀度:≤±2℃ ;

4•●、内箱尺寸(mm):300×300×225 (W×H×D);

5•●、外箱尺寸(mm):460×910×785 (W×H×D);

6•●、电源: 220V 50Hz 2.5KW。

20L高低温试验箱,芯片高 低温老化箱结构特点:

 1•●、箱体采用CNC数位工作母机成型,造型美观大方;

 2•●、箱体内部采用SUS304镜面不锈钢板,外部采用SECC钢板喷塑处理,以 

    增加外观质感及洁净度;

 3•●、大型观察窗,配有照明灯,保持箱内明亮,利用发热体内嵌式玻璃,随时保持清晰的观测箱内的状况;

 4•●、机器底部采用高质量可固定式活动轮,以便固定及移动之用。

20L高低温试验箱适用范围:

      小型高低温试验箱外形小巧,节约空间,操作简单,经济实惠;小型高低温试验箱适用于IC,PCB板•●、晶圆,可控硅,半导体,电阻•●、电容•●、电工•●、电子产品•●、其他零部件在高温•●、低温环境下贮存•●、运输•●、使用时的适应性试验,考核其各项性能指标。

《GB/T 2421/2/3/4-2008 电工电子产品环境试验》

《GJB 150A-2009 军  装备实验室环境试验方法》

《GJB 360B-2009 电子及电气元件试验方法》

《JJF 1101-2003 环境试验设备温度•●、湿度校准规范》

《GB/T 5170.2-2008 电工电子产品环境试验设备检验方法 温度试验设备》

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